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簡要描述:高頻介質(zhì)損耗(介電常數(shù))測試系統(tǒng)依據(jù)國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規(guī)定設計制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動測量的*佳解決方案。
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Product Category詳細介紹
介質(zhì)損耗(介電常數(shù))測試系統(tǒng)方案
高頻介質(zhì)損耗(介電常數(shù))測試系統(tǒng)由HJS-I型高頻Q表、AS916測試裝置(夾具)、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動測量控件(裝入HJS-I型高頻Q表軟件模塊)、及HLKI-1型電感器組, 液體杯(可選,用于測試液態(tài)材料)組成。
高頻測試系統(tǒng)依據(jù)國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規(guī)定設計制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動測量的z佳解決方案。
配置方案及報價如下表:
主機 | HJS-I高頻Q表 |
測試裝置 | AS916 |
HLKI-1型電感器組 | √ |
1 HJS-A+AS916+HLKI-1電感組特點:
測試頻率范圍 | 10KHz-70MHz, LCD顯示,6位有效數(shù) ,DDS數(shù)字合成 |
Q值測量范圍 | 1~1000四位數(shù)顯,±0.1Q分辨率 |
可調(diào)電容范圍 | 28~490pF 0.1pF分辨率 |
電容測量誤差 | ±0.5%±0.5pF |
Q表殘余電感值 | 約20nH |
S916測試裝置 | 屏幕5位數(shù)顯,極片為φ38和φ50二選一,支持液體杯測試, 液體杯測試極片為φ38 |
數(shù)據(jù)采集和tanδ自動測量控件 | 支持 |
技術(shù)參數(shù)
(1)Q值測量
a.Q值測量范圍:2~1023。
b.Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔。
c.標稱誤差
頻率范圍 10kHz~10MHz;
固有誤差 ≤5%±滿度值的2%;
工作誤差 ≤7%±滿度值的2%;
頻率范圍 10MHz~70MHz;
固有誤差 ≤6%±滿度值的2%;
工作誤差 ≤8%±滿度值的2%。
(2)電感測量范圍:14.5nH~8.14H
(3)電容測量:1~ 460
項 目
直接測量范圍 1~460pF
主電容調(diào)節(jié)范圍 30~500pF
準 確 度 150pF以下±1pF;
150pF以上±1%
(4)信號源頻率覆蓋范圍
項 目
頻率范圍 10kHz~70MHz
頻率分段(虛擬) 10~99.9999kHz
100~999.999kHz
1~9.99999MHz
10~70MHz
頻率指示誤差 3×10-5±1個字
(5)Q合格指示預置功能
預置范圍:5~1000。
(6)Q表正常工作條件
a. 環(huán)境溫度:0℃~+40℃;
b.相對濕度:<80%;
c.電源:220V±22V, 50Hz±2.5Hz。
4、設備配置:
a.測試主機一臺;
b.電感9只;
c.夾具一套
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